AliReza26
Active Member
شرکت آى بي ام موفق شد، اسکنر تازه اى را تکميل کند که ميتواند موقعيت يک الکترون واحد را به دقت مشخص سازد.
به گزارش بخش خبر سايت اخبار فن‌آوري اطلاعات ايران، به نقل از ايرنا، اين اسکنر راه براى مشاهده موقعيت اتمها در درون ترانزيستورها و نيز تهيه تصاوير دقيق ساختار داخل مولکولها
هموار ميکند.
شيوه هاى تصويرپردازى مغناطيسي که هم اکنون در دستگاههاى اسکنر استفاده ميشود در حد بررسي بافت هاى موجود زير لايه پوست و يا استخوانهاى بيماران قدرت دارد.
اين فناورى با استفاده از آشکارسازى پروتونها در درون مولکولهاى آب و رديابي حرکت آنها به وسيله يک ميدان مغناطيسي که با استفاده از يک سيم پيچ توليد ميشود، عمل ميکند.
اما اين اسکنرها براى توليد اطلاعات مناسب به وجود حداقل يک تريليون پروتون در هر موضع خاص نياز دارند زيرا اسپين پروتون که در مجاورت ميدان مغناطيسي موجب به حرکت در آمدن اين ذرات ميشود، بسيار ضعيف است و تنها تجمع شمار زيادى از پروتونها تراز اسپين را به حد مناسبي براى آشکار سازى ارتقا ميدهد.
متخصصان آى بيام موفق شده اند با ساخت يک ميکروسکوپ الکتروني که داراى يک بازو در ابعاد "نانو" است ، موقعيت تک الکترونها را مشخص کنند.
بازوى اين ميکروسکوپ که مجهز به يک نوک مغناطيسي است ۱۰۰ نانومتر طول و ۸۵ نانومتر عرض دارد (هر نانومتر يک ميليارديم متر است ).
اين بازوى مغناطيسي که به ميکروسکوپ امکان ميدهد، تصاويرى سه بعدى تهيه کند، ميتواند نيروى بسيار ضعيفي را که به وسيله يک الکترون توليد ميشود و معادل ۱۸ ۱۰-نيوتن است ، اندازه گيرى کند.
ده سال قبل زماني که نخستين نمونه از اين ميکروسکوپها توليد شد، بازوى آن تنها قادر به اندازه گيرى نيرويي معادل۶ ۱۰- بود که يک تريليون مرتبه قدرتمندتر از نيرويي است که نسل تازه اين ميکروسکوپ قادر به تشخيص آن است .
اگر قرار باشد از اين ميکروسکوپ براى تصويربردارى از مولکولها استفاده شود، بايد درجه حساسيت آن بازهم افزايش يابد زيرا در شناسايي مولکولهاى زنده بايد از اسپين اتمها استفاده کرد که حدود۶۵۰ مرتبه ضعيف تر از اسپين تک الکترونها است .
در حال حاضر تنها روش بررسي مولکولها، استفاده از پرتو قدرتمند ايکس در بلورنگارى است اما اين روش نيز تنها در مورد آن دسته از مولکولها کاربرد دارد که ساختارى بلورى (کريستالي ) دارند.
ميکروسکوپهاى اتمي موجود نيز ميتوانند موقعيت اتمها را در زير سطح تراشه هاى الکترونيک در يک فضاى دو بعدى آشکار سازند اما بر خلاف ميکروسکوپ جديد قادر نيستند موقعيت تک الکترونها را در درون ترانزيستورها مشخص کنند و نقايص ساختارى آنها را آشکار سازند.
به گزارش بخش خبر سايت اخبار فن‌آوري اطلاعات ايران، به نقل از ايرنا، اين اسکنر راه براى مشاهده موقعيت اتمها در درون ترانزيستورها و نيز تهيه تصاوير دقيق ساختار داخل مولکولها
هموار ميکند.
شيوه هاى تصويرپردازى مغناطيسي که هم اکنون در دستگاههاى اسکنر استفاده ميشود در حد بررسي بافت هاى موجود زير لايه پوست و يا استخوانهاى بيماران قدرت دارد.
اين فناورى با استفاده از آشکارسازى پروتونها در درون مولکولهاى آب و رديابي حرکت آنها به وسيله يک ميدان مغناطيسي که با استفاده از يک سيم پيچ توليد ميشود، عمل ميکند.
اما اين اسکنرها براى توليد اطلاعات مناسب به وجود حداقل يک تريليون پروتون در هر موضع خاص نياز دارند زيرا اسپين پروتون که در مجاورت ميدان مغناطيسي موجب به حرکت در آمدن اين ذرات ميشود، بسيار ضعيف است و تنها تجمع شمار زيادى از پروتونها تراز اسپين را به حد مناسبي براى آشکار سازى ارتقا ميدهد.
متخصصان آى بيام موفق شده اند با ساخت يک ميکروسکوپ الکتروني که داراى يک بازو در ابعاد "نانو" است ، موقعيت تک الکترونها را مشخص کنند.
بازوى اين ميکروسکوپ که مجهز به يک نوک مغناطيسي است ۱۰۰ نانومتر طول و ۸۵ نانومتر عرض دارد (هر نانومتر يک ميليارديم متر است ).
اين بازوى مغناطيسي که به ميکروسکوپ امکان ميدهد، تصاويرى سه بعدى تهيه کند، ميتواند نيروى بسيار ضعيفي را که به وسيله يک الکترون توليد ميشود و معادل ۱۸ ۱۰-نيوتن است ، اندازه گيرى کند.
ده سال قبل زماني که نخستين نمونه از اين ميکروسکوپها توليد شد، بازوى آن تنها قادر به اندازه گيرى نيرويي معادل۶ ۱۰- بود که يک تريليون مرتبه قدرتمندتر از نيرويي است که نسل تازه اين ميکروسکوپ قادر به تشخيص آن است .
اگر قرار باشد از اين ميکروسکوپ براى تصويربردارى از مولکولها استفاده شود، بايد درجه حساسيت آن بازهم افزايش يابد زيرا در شناسايي مولکولهاى زنده بايد از اسپين اتمها استفاده کرد که حدود۶۵۰ مرتبه ضعيف تر از اسپين تک الکترونها است .
در حال حاضر تنها روش بررسي مولکولها، استفاده از پرتو قدرتمند ايکس در بلورنگارى است اما اين روش نيز تنها در مورد آن دسته از مولکولها کاربرد دارد که ساختارى بلورى (کريستالي ) دارند.
ميکروسکوپهاى اتمي موجود نيز ميتوانند موقعيت اتمها را در زير سطح تراشه هاى الکترونيک در يک فضاى دو بعدى آشکار سازند اما بر خلاف ميکروسکوپ جديد قادر نيستند موقعيت تک الکترونها را در درون ترانزيستورها مشخص کنند و نقايص ساختارى آنها را آشکار سازند.
